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纳米颗粒粒度分析仪
| 仪器设备名称:纳米颗粒粒度分析仪 | 仪器设备分类编号:03030810 |
| 仪器设备厂商及型号:Ooriba公司/SZ-100Z | 购置时间:2011 |
| 国别:日本 |
技术指标及功能简介：粒径测量范围:0.3nm-8μm;分子量测量范围:1×103-2×10↑7;zeta 电位测量范围:-200mV-+200mV
| 仪器设备名称:纳米颗粒粒度分析仪 | 仪器设备分类编号:03030810 |
| 仪器设备厂商及型号:Ooriba公司/SZ-100Z | 购置时间:2011 |
| 国别:日本 |
技术指标及功能简介：粒径测量范围:0.3nm-8μm;分子量测量范围:1×103-2×10↑7;zeta 电位测量范围:-200mV-+200mV