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半导体特性测试系统
仪器设备名称:半导体特性测试系统 | 仪器设备分类编号:0408971 |
仪器设备厂商及型号:Lceithlay Instrument:4200-SCS/F | 购置时间:2004年10月 |
国别:美国 |
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技术指标及功能简介:分辨率0.1fA,数字源表1100V,该系统采用先进的前置放大技术,使电流解析能力达0.1fA,应用于光电功能材料及器件的表征。
主要研究方向:光电功能材料
仪器设备名称:半导体特性测试系统 | 仪器设备分类编号:0408971 |
仪器设备厂商及型号:Lceithlay Instrument:4200-SCS/F | 购置时间:2004年10月 |
国别:美国 |