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半导体参数测量系统

仪器设备名称:半导体参数测量系统 仪器设备分类编号:201002191
仪器设备厂商及型号:安捷伦:4156C 购置时间:2010年03月
国别:美国  

最大测试电流:100mA,分辨率:0.01fA,测试范围:20Hz-2MHz。

半导体材料与结构测试,MOS、BJT等半导体器件与集成电路测试。

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