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精密半导体参数分析仪

仪器设备名称:精密半导体参数分析仪 仪器设备分类编号:0000869
仪器设备厂商及型号:惠普公司:HP4156B 购置时间:1999年8月
国别:美国  

 

技术指标及功能简介:10pA~100mA/Res.1fA,2V~100V/Res.2μV三种SMU单元:HRSMU(高分辨率SMU)及MPSMU(中功率SMU):施加应力和测量:±100V或±100mA;最大输出功率:2W。HPSMU(高功率SMU):施加应力和测量:±200V或±1A;最大输出功率:20W。
主要研究方向:半导体器件IV测试,可靠性检测
地址:北京市海淀区中关村北大街123号科方孵化器大楼2310室微构分析测试中心
运营维护:北京北达燕园微构分析测试中心有限公司
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