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半导体参数分析仪
仪器设备名称:半导体参数分析仪 | 仪器设备分类编号:0210185 |
仪器设备厂商及型号:安捷伦:Agilent4156C | 购置时间:2002年6月 |
国别:美国 |
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技术指标及功能简介:3μV/200V,1fA/1A仪器可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试。
主要研究方向:微电子器件测试
仪器设备名称:半导体参数分析仪 | 仪器设备分类编号:0210185 |
仪器设备厂商及型号:安捷伦:Agilent4156C | 购置时间:2002年6月 |
国别:美国 |