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半导体特性测量仪
仪器设备名称:半导体特性测量仪 | 仪器设备分类编号:0210179 |
仪器设备厂商及型号:Keithley Instrument:4200 | 购置时间:2002年12月 |
国别:美国 |
![](/UploadFiles/2013-11/admin/2013112214132383915.jpg)
技术指标及功能简介:电流测量精度20fA,分辨率100aA,电压测量精度124μV。
主要研究方向:纳米器件,纳米电子学,纳米结构的电子输运,分子电子学
仪器设备名称:半导体特性测量仪 | 仪器设备分类编号:0210179 |
仪器设备厂商及型号:Keithley Instrument:4200 | 购置时间:2002年12月 |
国别:美国 |