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半导体特性测量仪

仪器设备名称:半导体特性测量仪 仪器设备分类编号:0210179
仪器设备厂商及型号:Keithley Instrument:4200 购置时间:2002年12月
国别:美国  

 

技术指标及功能简介:电流测量精度20fA,分辨率100aA,电压测量精度124μV。
 
主要研究方向:纳米器件,纳米电子学,纳米结构的电子输运,分子电子学
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